零部配件（除內(nèi)外飾）

• 紫外老化箱

  QUV紫外老化測(cè)試儀能重現(xiàn)太陽(yáng)光、雨水和露水造成的損害.僅需幾天或幾周時(shí)間,QUV紫外老化測(cè)試儀就能夠再現(xiàn)戶(hù)外數(shù)月或數(shù)年造成的損害.

  QUV 馬上詢(xún)價(jià)
• 表面清潔度測(cè)量?jī)x

  測(cè)試結(jié)果可為清潔時(shí)間、化學(xué)工藝和浸泡溫度等整個(gè)清潔過(guò)程的優(yōu)化提供可靠信息。通過(guò)清潔過(guò)程中對(duì)金屬部件的品質(zhì)控制來(lái)確保產(chǎn)品的高品質(zhì)要求.

  SITA CleanoSpector 馬上詢(xún)價(jià)
• VDA19標(biāo)準(zhǔn)顆粒掃描儀

  MicroQuick顆粒掃描儀符合VDA19標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需要，能夠快速掃描零部件表面殘留的顆粒污染物，被廣泛應(yīng)用于清洗工藝中的清潔度測(cè)試。

  MicroQuick 馬上詢(xún)價(jià)
• 美國(guó)Taber 5750磨耗測(cè)試儀

  美國(guó)Taber 5750磨耗測(cè)試儀可用于進(jìn)行干磨耗和濕磨耗測(cè)試。

  Taber 5750 馬上詢(xún)價(jià)
• 顆粒圖像分析儀

  RJL顆粒圖像分析儀可用于分析25微米以上的顆粒殘留物，適合于汽車(chē)零部件的清潔檢測(cè)，符合ISO 16232，以及VDA 19的測(cè)試要求。

  Mircoquick 馬上詢(xún)價(jià)
• 氙燈人工加速老化箱

  Q-SUN氙燈人工加速老化箱可用于人工模擬自曬老化測(cè)試，在短時(shí)間內(nèi)獲得大量可靠日曬老化測(cè)試數(shù)據(jù)。

  XE-1/XE-2/XE-3 馬上詢(xún)價(jià)
• 美能達(dá)CS-100A

  CS-100A光源亮度計(jì)可用于測(cè)試光的亮度，也可用于測(cè)量光的色度。在不同的應(yīng)用場(chǎng)合可根據(jù)實(shí)際需要選擇相應(yīng)的測(cè)試功能。

  CS-100A 馬上詢(xún)價(jià)